SJ/T 11607-2016《指紋識(shí)別設(shè)備通用規(guī)范》是一份針對(duì)指紋識(shí)別設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)文件。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了指紋識(shí)別設(shè)備的構(gòu)成、分類(lèi)、要求、試驗(yàn)方法、質(zhì)量評(píng)定程序、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等方面的要求。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類(lèi)型的指紋識(shí)別設(shè)備，包括但不限于指紋考勤機(jī)、指紋門(mén)禁機(jī)、指紋鎖等。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了指紋識(shí)別設(shè)備的構(gòu)成，包括指紋采集器、指紋識(shí)別算法、處理器、存儲(chǔ)器、電源等部分。同時(shí)，該標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了指紋識(shí)別設(shè)備的分類(lèi)，包括嵌入式指紋識(shí)別設(shè)備和通用指紋識(shí)別設(shè)備兩類(lèi)。

一、范圍：
本規(guī)范規(guī)定了指紋識(shí)別設(shè)備的構(gòu)成、分類(lèi)、要求、試驗(yàn)方法、質(zhì)量評(píng)定程序、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等。
本規(guī)范適用于各種類(lèi)型指紋識(shí)別設(shè)備的研制、生產(chǎn)和檢驗(yàn)等

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
高低溫試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、包裝跌落試驗(yàn)等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)臺(tái)、跌落試驗(yàn)機(jī)等。

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五、試驗(yàn)程序（部分）：

工作溫度下限
按 GB/T 2423.1-2008“試驗(yàn)Ad”進(jìn)行。受試樣品應(yīng)進(jìn)行初始測(cè)試。嚴(yán)酷程度取表 1 規(guī)定的工作溫度下限，加電運(yùn)行檢查程序 2 h，受試樣品應(yīng)能正常工作?；謴?fù)時(shí)間為 2 h 。

貯存運(yùn)輸溫度下限
按 GB/T 2423.1-2008“試驗(yàn)Ab”進(jìn)行。嚴(yán)酷程度取表 1 規(guī)定的貯存運(yùn)輸溫度下限。受試樣品在不工作條件下存放16 h?；謴?fù)時(shí)間為 2 h，并進(jìn)行最后測(cè)試。

沖擊
按GB/T 2423.5-2006“試驗(yàn)Ea”進(jìn)行。受試樣品應(yīng)進(jìn)行初始測(cè)試，安裝時(shí)要注意重力影響，按表3規(guī)定值，在不工作條件下，分別對(duì)三個(gè)互相垂直軸線(xiàn)方向進(jìn)行沖擊，沖擊次數(shù)各為三次，試驗(yàn)后進(jìn)行最后測(cè)試。