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很多光電器件必須長時間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴重。針對電器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化規(guī)律。因此，需要使用光電器件高低溫特性試驗箱對其進行實驗研究。
光電器件高低溫特性試驗箱的試驗條件：
試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 光電產(chǎn)品高低溫生命期實驗箱
測試條件：
高低溫實驗設(shè)計參考標準：美國軍事標準 MIL-STD-750 方法 1051、國家軍事標準GJB-128A-97 方法 1051 和 JESD22-A104-C。
（1）器件常溫下初測，放入試驗箱中從室溫開始升溫，恒溫 15min 后接著降溫，高低溫不斷循環(huán)，循環(huán)次數(shù) 20 次以上，可選取溫度點如 100℃、80℃、60℃、40℃、25℃、0℃、-10℃、-20℃、-30℃、-40℃、-50℃、-60℃，分別測試得到參數(shù)隨溫度變化規(guī)律。
（2）器件常溫下初測，將器件放置試驗箱中，從室溫開始升溫，恒溫 15min 后降溫直至-60℃的低溫環(huán)境，溫度點跟上面測試相同，每隔 10min 測試器件的 I-V 特性，達到失效判據(jù)為止。
（3）選取上述的溫度點，分別對器件施加直流電應(yīng)力，每隔一段時間測試器件的I-V 特性，達到失效判據(jù)為止。
高低溫測試流程圖：
如對光電器件高低溫特性試驗有疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
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